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| 品牌 | 其他品牌 | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 產地類別 | 進口 | 應用領域 | 綜合 |
有別于基于傳統(tǒng) Fizeau 干涉儀的方法，采用位相檢測方法直接構建的動態(tài)干涉儀既不需要移動待測元件多次曝光，也不需要采用偏振等復雜的光學手段，針對待測元件進行一次測量即可獲得其反射面型或透過波差；Kaleo-Multiwave 多色動態(tài)干涉儀可用于光學元件面型檢測、透過波差測試、大型望遠鏡系統(tǒng)測試及實時調整等。大動態(tài)范圍像差測試能力使其可測平面 / 球面波而無需中繼鏡，無色差檢測能力允許使用多個波長甚至白光進行測試。Kaleo-Multiwave 集成了可切換波長的準直光源，可以對大口徑鏡片進行直接或對比測量。
• 紫外、可見、近紅外、短波紅外、中遠紅外等多個波長可訂制
• 納米級位相分辨率
• 超高動態(tài)范圍，>600 條紋數(shù)
